更新时间:2024-12-23 23:14:56 浏览次数:1 公司名称:北京 成分分析科技有限公司
产品参数 | |
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产品价格 | 19.9/次 |
发货期限 | 1 |
供货总量 | 8899 |
运费说明 | 电议 |
最小起订 | 1 |
质量等级 | A |
是否厂家 | 是 |
可售卖地 | 全国 |
玉溪SEM(扫描电子显微镜)元素成分分析是利用扫描电子显微镜结合能谱仪(EDS)对样品中元素成分进行分析的方法。SEM-EDS技术可以提供样品表面的形貌和元素分布信息,并能够定性和定量地分析样品中的元素成分。 在SEM-EDS分析中,首先使用扫描电子显微镜观察样品表面的形貌和微观结构。然后,通过EDS探测器收集样品表面的X射线谱图。当电子束与样品相互作用时,样品中的元素会发射出特定能量的X射线。EDS探测器可以测量这些X射线的能量和强度,从而确定样品中存在的元素。 SEM-EDS分析可以提供样品中元素的定性信息,即确定样品中存在的元素种类。通过比较样品的X射线谱图与已知元素的标准谱图进行匹配,可以确定样品中的元素成分。此外,通过测量X射线的强度,还可以进行元素的定量分析,即确定元素在样品中的相对含量。 SEM-EDS元素成分分析广泛应用于材料科学、玉溪当地地质学、玉溪当地环境科学等领域。它可以用于材料的成分分析、玉溪当地缺陷分析、玉溪当地颗粒分析、玉溪当地矿物学研究等方面。该技术具有非破坏性、玉溪当地高分辨率和高灵敏度的特点,为样品的微观表征和元素分析提供了有力的工具。
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