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SOE测试仪录波仪用于常规的SOE通道分辨率测试。例如一个SOE记录设备的标称分辨率为1ms，要验证该设备的实际分辨率是否符合要求，我们用的信号输出通道依次触发被检验设备的每个DI通道，每个通道触发的间隔时间设定为1ms，所有被测量通道都触发完之后，调取被检验设备的SOE记录，查看其记录的每个通道的触发时间值是否符合测试仪实际输出的触发顺序和间隔时间，这样就能够判定该设备的SOE记录精度是否符合规范。顺序触发模式下的输出时序如下：4-2、逆序触发 触发模式与顺序触发相同，但是触发通道的先后顺序相反。时序图如下：4-3、重复脉冲触发 该模式下所有DO输出通道同步输出1-99个重复脉冲。脉冲宽度和间隔时间可定义为1-9999ms。通常用于对SOE或其它干接点型DI通道做抗干扰滤波特性试验。输出时序如下：5、测试操作步骤1、测试电缆连接使用DB50电缆转接线将的开关信号按顺序连接到被测试的SOE记录设备的DI接线端子上。2、接好测试电缆后接通测试仪电源。开启测试仪电源，按测试需求选择进入不同的触发模式界面。设置触发信号的间隔时间、脉宽、间隔、次数等参数。3、试验触发。按“触发”键，观察被测试的SOE模件上的通道指示灯应能被触发点亮。否则要检查接线是否正确或接触是否牢靠。4、确认所有已连接到测试仪的通道均可被正常触发和复归以后；做好SOE系统侧的记录准备；选择的触发模式和间隔时间，启动触发，触发后约延时5秒后自动复归或按任意键复归。5、从被测设备中调取SOE触发记录，与测试仪发出的实际触发顺序和间隔时间进行比对。

录波仪记录自动覆盖录波仪采用循环方式管理故障记录。故障启动后，录波仪生成一个新的记录，如果此时存储空间不足，录波仪会删除旧的一个故障记录，然后保存新记录。录波仪能够保存的记录数目，取决于故障记录的大小，而故障记录的大小由记录格式决定，请参见“故障记录格式”。7.6.记录的 保存在打开的记录列表对话框中，用户可以“ 化”需要保留的记录(F2)。 化的记录，即便是当前旧的记录，也不会被新的记录覆盖。建议将需要长期保存的记录上传至PC机，因为过多的 化记录减少了录波仪的循环存储空间。列表中用图标标明故障记录的状态：未被 化的记录。被 化的记录。7.7.打开故障记录在打开的记录列表对话框中，按“↙”键，打开选定的故障记录，进入分析画面。分析画面如下图：画面横向为时间轴，时间零点为故障启动点，故障前时间显示为负；纵向为幅值，由于各模拟量的额定值可能不同，为方便比较，纵轴采用标幺制，即为“实时值/额定值”。而光标对应处显示为有名值（实际值）。开关量从下向上依次排列，坐标系右侧的“∠xxxx”标明开关量的代号，符号“∠”的尖角位置与开关量的“断开”状态对应，高于此处的位置为“闭合”状态。模拟量曲线与光标对应值使用一致的颜色。全景框，横向为记录的时间全长，纵向为记录的小到 标幺值，显示了记录的“全景”。取景框，显示了当前画面在记录全景中的位置。按“Tab”键，切换键盘操作，共有4组操作：“放大/缩小”、“移动”、“光标1”、光标2”。7.7.1.7放大/缩小方向键 →： 放大取景框时间轴，波形横向压缩。方向键 ←： 缩小取景框时间轴，波形横向展开。方向键 ↑： 放大取景框纵轴（标幺值轴），波形纵向压缩。方向键 ↓： 缩小取景框纵轴（标幺值轴），波形纵向展开。7.7.2.移动方向键 →： 取景框右移，波形向左移动。方向键 ←： 取景框左移，波形向右移动。方向键 ↑： 取景框上移，波形向下移动。方向键 ↓： 取景框下移，波形向上移动。